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  New?Imaging?Technologies用于半導體檢測的NIT成像解決方案 2022-03-11 17:09:27

  ?在過去的數年里，SWIR波段被公認是半導體器件測試的最好波長范圍之一。不論是晶圓或太陽能發電板上的裂痕和缺陷，或是集成電路的故障分析，InGaAs波長（900m-1700nm）成像設備主要用于透視硅內部。

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  New?Imaging?Technologies高感光度& HDR相機WiDy Sens 640 2021-09-07 16:51:12

  New?Imaging?Technologies?以其獨具特色的性能指標和功能模塊、高靈敏度和高動態范圍，WiDy SenS相機是各種各樣應用的完美結合。其640x、512像素分辨率為半導體或太陽能電池板的檢驗提供了舒適的視野。當WiDy Sens 640高動態范圍可用作監控增材制造過程時，純線性模式提供了作為光線診斷工具的專業能力。