New?Imaging?Technologies用于半導體檢測的NIT成像解決方案
發布時間:2022-03-11 17:09:27 瀏覽:890
在過去的數年里,SWIR波段被公認是半導體器件測試的最好波長范圍之一。不論是晶圓或太陽能發電板上的裂痕和缺陷,或是集成電路的故障分析,InGaAs波長(900m-1700nm)成像設備主要用于透視硅內部。
除此之外,NITSWIR成像設備在便于集成到半導體器件生產線時,提供了具有吸引力的性能/價格比。
LiSaSWIR–測試電子元器件、硅片和太陽能發電板的終極設備。
LisaSWIR是為半導體器件測試而研發的SWIR波長穿透硅的能力。可輕松檢驗硅晶片或單個管芯。
LisaSWIR可以檢驗生產制造和現場的太陽能發電板,即使在低對比度下,也能提供極為準確的小缺陷導致的光發光圖像。
由于其7.5μm小像素尺寸,LisaSWIR以高吞吐量獲得材料缺陷的極為清晰和清晰的圖像。
為何選擇NIT?
短波紅外線波段
小間隔
高性價比的解決方案
New Imaging Technologies是法國知名的SWIR傳感器和相機產品公司,New Imaging Technologies產品廣泛應用于機器視覺、儀器儀表、航空航天、醫療等領域。深圳市立維創展科技有限公司,獨有渠道優勢提供New Imaging Technologies產品,歡迎咨詢。
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FLIR公司專門從事專業技術的設計、開發、生產、營銷和推廣,以提高人們對情景的認識。依靠FLIR強大的熱成像系統、可見光成像系統、定位系統、測量和診斷系統以及先進的威脅檢測系統,創新的感應解決方案將集成到人們的日常生活中。FLIR產品將有效地改善人們與周圍環境的互動方式,提高公共安全和人民的福祉。
主要介紹了熱斷路器和液壓磁性斷路器的類型、工作原理、環境溫度對其影響、液壓磁性斷路器的優勢及應用場景。熱斷路器通過熱感應元件變形觸發斷路,受負載電流熱效應和外部環境溫度影響,高溫下可能低電流觸發、低溫下可能延遲觸發,需降額但影響保護準確性;液壓磁性斷路器基于電磁線圈原理,通過流體控制鐵芯移動速度實現不同延時曲線,高電流沖擊可瞬間觸發,在 -40°C到 +85°C寬溫度范圍性能穩定,不受環境溫度影響。其具有穩定性好、可調節、有附加功能、抗沖擊能力強等優勢,適用于電信、數據中心等需在全球不同環境溫度下使用的設備。
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