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　　在航空電子、工業(yè)自動(dòng)化及高可靠性系統(tǒng)中，離散信號(hào)(如開(kāi)關(guān)狀態(tài)、傳感器信號(hào))的準(zhǔn)確采集與數(shù)字化處理至關(guān)重要。為滿足這一需求，Device Engineering Incorporated (DEI)推出了DEI128x系列離散輸入評(píng)估板，專門用于測(cè)試和驗(yàn)證其高性能離散輸入集成電路(IC)。該評(píng)估板兼容多種DEI IC型號(hào)，支持高壓環(huán)境下的信號(hào)采集、抗干擾測(cè)試及靈活配置，是工程師開(kāi)發(fā)高可靠性系統(tǒng)的理想工具。

　　產(chǎn)品目的

　　用途：測(cè)試和評(píng)估DEI公司多種離散輸入接口芯片(Discrete Input ICs)。

　　兼容性：新IC設(shè)計(jì)盡可能保持引腳兼容(如DEI1282與DEI1284)。

　　支持評(píng)估的芯片列表

　　評(píng)估板功能

　　測(cè)試接口：

　　通過(guò)跳線(H1-H13)輸入/監(jiān)測(cè)信號(hào)，支持USBee AX?測(cè)試工具。

　　Vin(H1/H2)可外接電源，動(dòng)態(tài)調(diào)整輸入閾值。

　　保護(hù)電路：

　　電阻(R1-R15)可短路用于直接信號(hào)注入，或串聯(lián)/TVS用于高壓測(cè)試。

　　TVS器件(D1-D16)支持防雷擊(如Level 3-5)。

　　驅(qū)動(dòng)與開(kāi)關(guān)：

　　ULN2803驅(qū)動(dòng)器(U7/U8)提供GND/OPEN信號(hào)和FET(Q1-Q16)的柵極驅(qū)動(dòng)。

　　FET開(kāi)關(guān)支持±20V柵源電壓和60V漏源電壓，適用于28V/OPEN模式。

　　擴(kuò)展功能：

　　支持DEI1282/1284的級(jí)聯(lián)(通過(guò)J1/J2)。

　　應(yīng)用場(chǎng)景

　　航空電子：驗(yàn)證飛控系統(tǒng)的28V/OPEN或GND/OPEN離散信號(hào)接口。

　　工業(yè)控制：測(cè)試PLC或傳感器的高壓開(kāi)關(guān)信號(hào)兼容性。

　　研發(fā)調(diào)試：通過(guò)USBee AX?工具實(shí)時(shí)捕獲SPI/并行數(shù)據(jù)，加速故障診斷。

深圳市立維創(chuàng)展科技有限公司，優(yōu)勢(shì)提供DEI高端芯片訂貨渠道，部分備有現(xiàn)貨庫(kù)存。